• 【Mångsidig kompatibilitet】 4-i-1 dubbelriktad testfog för moderkort som stöder iPhone 13-seriens modeller.
• 【Premiumkvalitet】 Tillverkad med högkvalitativa material för hållbarhet och precision, säkerställer tillförlitlig prestanda under testprocedurer.
• 【Förbättrad precision】 Högprecisionsdesign för säker fixering av moderkort, minimerar risken för skador under testning.
• 【Effektiv testning】 Möjliggör snabb anslutning av övre och undre lager av moderkort för snabb och smidig testning.
• 【Användarvänlig design】 Uppgraderad för förbättrad portabilitet och enkel användning, förenklar testning av moderkort och minskar reparationstid.
• 【Avancerad inspektion】 Innehåller omfattande kvalitetskontroller för att förhindra potentiella skador orsakade av upprepade demonteringar och installationer.

Specifikationer:

• Material: Premiumkvalitet, slitstark konstruktion
• Design: Dubbelriktad lagrad testfog
• Egenskaper: Högprecisionsfixering av moderkort, Snabbkoppling av lager
• Användning: Testning och reparation av moderkort