XZZ Rama testowa do odwarstwiania iPhone 16e, stojaki testowe do warstw płyty głównej, test funkcji
【Specjalnie zaprojektowane dla płyt głównych 16e】Dedykowane płyty głównej iPhone 16e, zapewniają dokładną diagnostykę i ułatwiają naprawę
【Złociste sondy pomiarowe】Wysokoprecyzyjne, odpornożrące sondy zapewniają stabilną transmisję sygnału i długotrwałą wydajność
【Dokładne pozycjonowanie i testowanie bez ramki】Konstrukcja jednolita z precyzyjnym dopasowaniem — umożliwia testowanie bezpośrednio bez obudowy telefonu
【Lekka i ergonomiczna konstrukcja】Kompaktowa i przenośna budowa zapewnia wygodę użytkowania i komfort podczas długotrwałych napraw
【Kompleksowe testowanie funkcji】Obsługuje test uruchamiania, wyświetlacza, ekranu dotykowego, aparatu, lampy błyskowej, głośnika, Wi-Fi i funkcji Face ID — bez konieczności lutowania
Specyfikacja:
Nazwa produktu: rama testowa do odwarstwiania 16e
Typ sondy: Dedykowane sprężynowe sondy złociste
Wymiary produktu: 86x58x15 mm
Waga netto produktu: 109 g
Specyfikacja
Ogólne
Waga paczki
Więcej zdjęć
Pobierz obrazy
Pokaż mniej
Opinie
Wyrównanie cen
Dodaj do listy życzeń
Hurtowe
Dostosowanie
XZZ Rama testowa do odwarstwiania iPhone 16e, stojaki testowe do warstw płyty głównej, test funkcji