• 【Testowanie dwóch kart jednocześnie】Przetestuj sygnał i stan sieci dwóch kart SIM jednocześnie, poprzez pojedyncze włożenie, znacznie skracając czas diagnozy dla większej efektywności.

• 【Brak konieczności demontażu】Kompaktowa i lekka konstrukcja pozwala na bezpośrednie włożenie do urządzenia bez usuwania obudowy telefonu ani tacki na kartę, umożliwiając szybkie wykrywanie usterek.

• 【Uniwersalna kompatybilność】Zgodna z modelami iPhone'a z podwójną kartą SIM oraz z popularnymi telefonami Android, spełnia różnorodne potrzeby warsztatów serwisowych.

• 【Obsługa dedykowanych kart NM】Specjalnie zaprojektowana dla telefonów serii HW, zapewnia precyzyjne rozpoznawanie kart pamięci NM, umożliwia szybkie ustalenie, czy usterka dotyczy gniazda czy samej karty.

• 【Obsługa wielu gniazd】Zintegrowana funkcja testowa dla SIM1, SIM2, kart TF i kart NM, rozwiązuje typowe problemy z rozpoznawaniem pamięci w różnych standardach kart.

Specyfikacja:

• Model: XA6
• Wymiary płyty głównej: 124 mm x 107 mm
• Średnica środkowego dysku: 13,5 mm
• Wymiary modułu testowego NM: 42,3 mm x 9,6 mm x 14,2 mm
• Materiał: płyta PCB FR-4 z niebieskim lakierem utrwalającym, gniazda metalowe z powłoką srebrną
• Obsługiwane typy kart: Nano-SIM (SIM1/SIM2), Micro-SIM, karta TF, karta NM
• Sposób testowania: wtyk i działaj