• 【Wsparcie dla 4 w 1】Nowatorska rama testowa obsługuje serię iPhone 17 w jednolitym, zintegrowanym projekcie, umożliwiającym wszechstronne testowanie płyt głównych.

• 【Wysokiej jakości Sonde z Berylowej Miedzi】Stosuje importowane sprężynowe sonde z berylowej miedzi, zapewniające niezawodny kontakt i doskonałą przewodność dla dokładnych wyników testów.

• 【Modułowy Projekt Uchwytu】Uchwyt z wymiennymi elementami ze stopu białego z precyzyjnie wyznaczonymi otworami pozycjonującymi i punktami styku, umożliwia łatwe dostosowanie do różnych modeli.

• 【Profesjonalne Rozwiązanie Testowe】Zaprojektowane do testowania funkcjonalności płyt głównych w trybie offline w środowiskach naprawczych i produkcyjnych, z mechanizmem blokady przesuwnej i pinami pozycjonującymi.

• 【Precyzyjna Inżynieria】Wysokoprecyzyjne specyfikacje sond: całkowita długość 6 mm, średnica środka Φ0,5 mm, zapewniają spójność i dokładność wyników testów.

Specyfikacja:

• Wymiary ramy testowej: 131 mm x 80 mm x 17 mm
• Materiał sondy: Importowana Miedź Berylowa
• Całkowita długość sondy: 6 mm
• Średnica środkowa sondy: Φ0,5 mm
• Średnica końcowa sondy: Φ0,25 mm
• Długość środkowa sondy: 3,9 mm
• Długości końcowe sondy: 0,6 mm i 1,5 mm
• Materiał uchwytu: Metal
• Konstrukcja: Projekt z blokadą przesuwną i pinami pozycjonującymi