• 【Højpræcisionsafprøvning】Anvender importeret beryllium kobber fjederprober til fremragende ledningsevne, hvilket sikrer stabil ydeevne under belastning og minimal afvigelse i testværdier.
• 【Innovativ probe-design】Funktioner kegleformede prober, der er modstandsdygtige over for hars og loddepåhæftning, opretholder nøjagtighed og reducerer vedligeholdelsesbehov.
• 【Premium konstruktion】Fremstillet af højkvalitets aluminiumslegering med en elegant safirblå finish, der kombinerer holdbarhed med et moderne udseende.
• 【Brugervenlig design】Indeholder en praktisk låsemekanisme til hurtig og nem opsætning, hvilket viser funktionalitet på professionelt niveau.
• 【Præcis justering】Dobbelt-hovedede prober justeres nøjagtigt med små huller, forbedrer kontaktpræstationen og sikrer nøjagtige testdata.
• 【Sikker korte montering】Låsebeslag holder moderkortet sikkert på plads, forhindrer forvrængning og garanterer mere præcise testresultater.

Specifikationer:

• Materiale: Aluminiumslegering
• Prober materiale: Importeret beryllium kobber
• Probe type: Fjederbelastet, kegleformet spids
• Anvendelse: Test af lag på moderkort til iPhone 15-serien