• 【Præcis positionering】 Dobbelt hovedprober præcist justeret til små huller, forbedrer kontaktpræstationen for mere nøjagtige testdata.
• 【Sikker fastgørelse】 Faste spænder forhindrer hovedkortbøjning og sikrer pålidelige og præcise målinger.
• 【Alsiddig kompatibilitet】 Designet til test af logikbord til iPhone 16-serien, herunder modellerne 16, 16 Plus, 16 Pro og 16 Pro Max.
• 【Effektiv test】 Gør det muligt hurtigt og fuldstændigt at teste funktionaliteten af hovedkort til iPhone 16-serien.
• 【Professionelt værktøj】 Ideel til B2B-kunder inden for reparation og kvalitetskontrol af mobilenheder.

Specifikationer:

• Materiale: Højkvalitets industrielle materialer
• Kompatibilitet: Til iPhone 16, 16 Plus, 16 Pro og 16 Pro Max logikbord
• Testtype: Lagdelt test af hovedkort
• Probe-type: Dobbelt hoved til præcis justering
• Fastgørelsesmekanisme: Faste spænder
• Anvendelse: Funktionstest af logikbordHovedkort Lagdelt Testramme 
• Branche: Reparation og kvalitetskontrol af mobilenheder