Fixture di prova a strati della scheda madre YCS Beryllium Copper Spring Probe per iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
【Test di alta precisione】Utilizza sonde a molla in rame berillio importato per un'eccellente conduttività, garantendo prestazioni stabili sotto carico e deviazione minima dei valori di test.
【Design innovativo delle sonde】Presenta sonde coniche che resistono all'adesione di resina e saldatura, mantenendo l'accuratezza e riducendo le esigenze di manutenzione.
【Costruzione di alta qualità】Realizzato in lega di alluminio di alta qualità con una elegante finitura color zaffiro, combinando robustezza e un aspetto alla moda.
【Design facile da usare】Incorpora un comodo meccanismo di bloccaggio per una configurazione rapida e semplice, mostrando funzionalità di livello professionale.
【Allineamento di precisione】Le sonde a doppia testina si allineano con precisione ai piccoli fori, migliorando le prestazioni di contatto e garantendo dati di test accurati.
【Montaggio sicuro della scheda】I fermi di bloccaggio mantengono saldamente la scheda madre in posizione, impedendo la deformazione e garantendo risultati di test più precisi.
Specifiche:
Materiale: Corpo in lega di alluminio
Materiale della sonda: Rame berillio importato
Tipo di sonda: A molla, punta conica
Applicazione: Test dello strato della scheda madre per la serie iPhone 16
Specifiche
Generale
Peso del pacco
Recensioni
Confronto Prezzi
Aggiungi alla Lista dei Desideri
Vendita Ingrosso
Personalizzazione
Fixture di prova a strati della scheda madre YCS Beryllium Copper Spring Probe per iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
Numero Articolo: 6616001514A
Totale:
Salva
Costo di Spedizione Stimato: --Altre Opzioni di Spedizione