Fixture di prova a strati della scheda madre YCS Beryllium Copper Spring Probe per iPhone 15 / 15 Plus / 15 Pro / 15 Pro Max
【Test di alta precisione】Utilizza sonde a molla in rame berillio importate per un'eccellente conduttività, garantendo prestazioni stabili sotto carico e deviazioni minime nei valori di test.
【Design innovativo delle sonde】Caratterizzato da sonde coniche che resistono all'adesione di resina e saldatura, mantenendo l'accuratezza e riducendo le esigenze di manutenzione.
【Costruzione premium】Realizzato in lega di alluminio di alta qualità con una raffinita finitura color zaffiro, combinando durevolezza con un'estetica alla moda.
【Design intuitivo】Incorpora un comodo meccanismo di bloccaggio per una configurazione rapida e semplice, che mostra una funzionalità di livello professionale.
【Allineamento di precisione】Le sonde a doppia testina si allineano con precisione ai piccoli fori, migliorando le prestazioni di contatto e garantendo dati di test accurati.
【Montaggio sicuro della scheda madre】I fermi di bloccaggio tengono saldamente in posizione la scheda madre, impedendo la deformazione e garantendo risultati di test più precisi.
Specifiche:
Materiale: Corpo in lega di alluminio
Materiale della sonda: Rame berillio importato
Tipo di sonda: A molla, punta conica
Applicazione: Test degli strati della scheda madre per la serie iPhone 15
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Fixture di prova a strati della scheda madre YCS Beryllium Copper Spring Probe per iPhone 15 / 15 Plus / 15 Pro / 15 Pro Max
Numero Articolo: 6616001515A
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