• 【Compatibilità versatile】 Il supporto di prova a strati a doppia faccia 4-in-1 supporta i modelli della serie iPhone 13.
• 【Qualità premium】 Costruito con materiali di alta qualità per durabilità e precisione, garantendo prestazioni affidabili durante le procedure di test.
• 【Precisione migliorata】 Design ad alta precisione per il fissaggio sicuro delle schede madri, riducendo al minimo il rischio di danneggiamento durante i test.
• 【Test efficiente】 Consente il rapido collegamento degli strati superiore e inferiore della scheda madre per processi di test veloci e snelli.
• 【Design user-friendly】 Aggiornato per una migliore portabilità e facilità d'uso, semplificando il test della scheda madre e riducendo i tempi di riparazione.
• 【Ispezione avanzata】 Incorpora controlli di qualità approfonditi per prevenire potenziali danni dovuti a ripetuti smontaggio e installazione.

Specifiche:

• Materiale: Costruzione di alta qualità e durevole
• Design: Supporto di prova a strati a doppia faccia
• Caratteristiche: Supporto di schede madri ad alta precisione, Connessione rapida degli strati
• Utilizzo: Test e riparazione di schede madri