• 【Supporto 4-in-1 Multi-Modello】Telaio di test rivoluzionario compatibile con la serie iPhone 17, con un design integrato singolo per test versatili della scheda madre.

• 【Puntali in Rame-Berillio Premium】Utilizza puntali a molla in rame-berillio importati che garantiscono un contatto affidabile e una conduttività superiore per risultati di test precisi.

• 【Design del Fixture Modulare】Include componenti in metallo bianco sostituibili, con fori di posizionamento precisi e punti di contatto per un'agevole adattabilità tra diversi modelli.

• 【Soluzione Professionale di Test】Progettato per testare la funzionalità della scheda madre in ambienti di riparazione e produzione, con meccanismo di bloccaggio a ribaltamento e perni di posizionamento.

• 【Ingegneria di Precisione】Specifiche dei puntali ad alta precisione con lunghezza totale di 6 mm e diametro centrale di 0,5 mm per prestazioni di test costanti e accurate.

Specifiche:

• Dimensioni del telaio di test: 131 mm x 80 mm x 17 mm
• Materiale puntali: Rame-Berillio Importato
• Lunghezza totale puntali: 6 mm
• Diametro centrale puntali: Φ0,5 mm
• Diametro estremità puntali: Φ0,25 mm
• Lunghezza centrale puntali: 3,9 mm
• Lunghezze estremità puntali: 0,6 mm e 1,5 mm
• Materiale fixture: Metallo
• Struttura: Design con bloccaggio a ribaltamento e perni di posizionamento