• 【4-in-1-Mehrfachmodell-Unterstützung】Revolutionärer Testrahmen unterstützt die iPhone-17-Serie mit einem einzigen integrierten Design für vielseitige Hauptplatinen-Tests.

• 【Hochwertige Beryllium-Kupfer-Prüfspitzen】Verwendet durchgängig importierte Federprüfspitzen aus Beryllium-Kupfer, die zuverlässigen Kontakt und hervorragende Leitfähigkeit für genaue Testergebnisse gewährleisten.

• 【Modulares Halterungsdesign】Verfügt über austauschbare Weißmetall-Halterungen mit präzisen Positionierlöchern und Kontaktstellen für eine einfache Anpassung zwischen verschiedenen Modellen.

• 【Professionelle Testlösung】Entwickelt für die Offline-Funktionsprüfung von Hauptplatinen in Reparatur- und Produktionsumgebungen mit Kippverriegelungsmechanismen und Positionierstiften.

• 【Präzisionsfertigung】Hochpräzise Prüfspitzen-Spezifikationen mit einer Gesamtlänge von 6 mm und einem Mitteldurchmesser von 0,5 mm gewährleisten ein gleichmäßiges und genaues Testergebnis.

Technische Daten:

• Abmessungen des Testrahmens: 131 mm x 80 mm x 17 mm
• Material der Prüfspitze: Importiertes Beryllium-Kupfer
• Gesamtlänge der Prüfspitze: 6 mm
• Mitteldurchmesser der Prüfspitze: Φ0,5 mm
• Enddurchmesser der Prüfspitze: Φ0,25 mm
• Mittellänge der Prüfspitze: 3,9 mm
• Endlängen der Prüfspitze: 0,6 mm und 1,5 mm
• Halterungsmaterial: Metall
• Aufbau: Kippverriegelungsdesign mit Positionierstiften