Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
【Test de haute précision】Utilise des sondes à ressort en béryllium-cuivre importées pour une excellente conductivité, assurant des performances stables sous charge et une déviation minimale des valeurs de test.
【Conception innovante des sondes】Présente des sondes coniques qui résistent à l'adhérence de la résine et de la soudure, maintenant la précision et réduisant les besoins d'entretien.
【Construction premium】Fabriqué en alliage d'aluminium de haute qualité avec une finition élégante de couleur saphir, combinant durabilité et esthétique à la mode.
【Conception conviviale】Intègre un mécanisme de verrouillage pratique pour une installation rapide et facile, offrant des fonctionnalités de niveau professionnel.
【Alignement de précision】Les sondes à deux têtes s'alignent avec précision sur les petits trous, améliorant les performances de contact et assurant des données de test précises.
【Montage sécurisé de la carte】Des attaches de verrouillage maintiennent fermement la carte mère en place, empêchant le gauchissement et garantissant des résultats de test plus précis.
Spécifications :
Matériau : Boîtier en alliage d'aluminium
Matériau de la sonde : Béryllium-cuivre importé
Type de sonde : À ressort, pointe conique
Application : Test de la couche de carte mère pour la série iPhone 16
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Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
N° d'article: 6616001514A
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