Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
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Descriptions de produits

Spécifications

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Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max
  • 【Test de haute précision】Utilise des sondes à ressort en béryllium-cuivre importées pour une excellente conductivité, assurant des performances stables sous charge et une déviation minimale des valeurs de test.
  • 【Conception innovante des sondes】Présente des sondes coniques qui résistent à l'adhérence de la résine et de la soudure, maintenant la précision et réduisant les besoins d'entretien.
  • 【Construction premium】Fabriqué en alliage d'aluminium de haute qualité avec une finition élégante de couleur saphir, combinant durabilité et esthétique à la mode.
  • 【Conception conviviale】Intègre un mécanisme de verrouillage pratique pour une installation rapide et facile, offrant des fonctionnalités de niveau professionnel.
  • 【Alignement de précision】Les sondes à deux têtes s'alignent avec précision sur les petits trous, améliorant les performances de contact et assurant des données de test précises.
  • 【Montage sécurisé de la carte】Des attaches de verrouillage maintiennent fermement la carte mère en place, empêchant le gauchissement et garantissant des résultats de test plus précis.

Spécifications :

  • Matériau : Boîtier en alliage d'aluminium
  • Matériau de la sonde : Béryllium-cuivre importé
  • Type de sonde : À ressort, pointe conique
  • Application : Test de la couche de carte mère pour la série iPhone 16

Spécifications

Général

Poids du colis

Avis

  • Vente en gros
  • Personnalisation

Dispositif de test multicouche pour carte mère YCS Beryllium Copper Spring Probe pour iPhone 16 / 16 Plus / 16 Pro / 16 Pro Max

N° d'article: 6616001514A
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