• 【Prise en charge multi-modèles 4-en-1】Bâti de test révolutionnaire prenant en charge la série iPhone 17 avec un design intégré unique pour des tests polyvalents de carte mère.

• 【Sondes en cuivre béryllium haut de gamme】Utilise systématiquement des sondes à ressort en cuivre béryllium importé, assurant un contact fiable et une conductivité supérieure pour des résultats de test précis.

• 【Conception modulaire du bâti】Comprend des éléments de fixation en métal blanc remplaçables, dotés de trous de positionnement précis et de points de contact pour une adaptation facile entre différents modèles.

• 【Solution de test professionnelle】Conçue pour les tests hors ligne des fonctionnalités des cartes mères dans les environnements de réparation et de production, avec mécanisme de verrouillage à bascule et broches de positionnement.

• 【Ingénierie de précision】Spécifications de sonde haute précision avec une longueur totale de 6 mm et un diamètre central de 0,5 mm, garantissant des performances de test constantes et précises.

Spécifications :

• Dimensions du bâti de test : 131 mm x 80 mm x 17 mm
• Matériau de la sonde : Cuivre béryllium importé
• Longueur totale de la sonde : 6 mm
• Diamètre central de la sonde : Φ0,5 mm
• Diamètre de l'extrémité de la sonde : Φ0,25 mm
• Longueur centrale de la sonde : 3,9 mm
• Longueurs d'extrémité de la sonde : 0,6 mm et 1,5 mm
• Matériau du support : Métal
• Structure : Design à verrouillage basculant avec broches de positionnement