• 【Posicionamiento preciso】 La sonda de doble cabezal se alinea con precisión con los orificios pequeños, mejorando el rendimiento de contacto para obtener datos de prueba más precisos.
• 【Sujeción segura】 Los broches fijos evitan que la placa madre se deforme, asegurando mediciones fiables y precisas.
• 【Compatibilidad versátil】 Diseñado para probar las placas lógicas de la serie iPhone 16, incluidos los modelos 16, 16 Plus, 16 Pro y 16 Pro Max.
• 【Pruebas eficientes】 Facilita pruebas rápidas y exhaustivas de la funcionalidad de las placas madre de la serie iPhone 16.
• 【Herramienta profesional】 Ideal para clientes B2B en los sectores de reparación de dispositivos móviles y control de calidad.

Especificaciones:

• Material: Materiales industriales de alta calidad
• Compatibilidad: Para placas lógicas de iPhone 16, 16 Plus, 16 Pro y 16 Pro Max
• Tipo de prueba: Prueba de placa madre por capas
• Tipo de sonda: Doble cabezal para alineación precisa
• Mecanismo de sujeción: Broches fijos
• Aplicación: Prueba de funcionalidad de la placa lógica Marco de prueba de placa madre por capas
• Industria: Reparación de dispositivos móviles y control de calidad